儀器簡介

功能：采用動態法和四探針法分別測量樣品的 Seebeck 系數和電阻率。

優勢：采用動態法測試材料Seebeck系數以及四探針法測試材料電阻率。動態法可以消除在Seebeck系數測試過程中因為溫度測試不準帶來的系統誤差，測試精度更高。四探針法測試電阻精度高，而且在測試過程中正反向切換電流，進一步提高測試精度。測試過程中熱電偶不直接和樣品接觸，避免了樣品對熱電偶的污染，提升儀器測試精度。

主要技術參數

1、工作溫度：RT~800℃；

2、相對誤差精度：Seebeck系數 ≤ 7%，電阻率 ≤ 5%；

3、分辨率：Seebeck系數：5×10-8 V/K； 電阻率：5×10-8 Ω·m；

4、樣品尺寸：塊體：長×寬：(2~5) mm×(2~5) mm；高度：10 mm~18 mm；

5、溫控方式：PID 程序控制；

6、真空度：50 Pa。

應用領域：

應用于材料、生物醫療、電子技術等眾多領域，可用于測量半導體塊狀樣品，康銅、鎳、鉍等金屬半金屬樣品，石墨、碳材料等非金屬樣品的Seebeck 系數和電阻率，還可測薄膜（納米）樣品的 Seebeck 系數和電阻率。