儀器簡介：

功能：快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學常數、表面粗糙度。

優勢： 實時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的，獨立的和不均勻的層。豐富的材料庫 (500多種材料)，可支持參數化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作軟件支持一鍵式測量和分析，仿真和靈敏度分析，背景和縮放修正，連接層和材料，多樣品測量、動態測量。

主要技術參數

1.光譜范圍：200 nm~1700 nm ；

2.測量范圍：2 nm~200 μm ；

3.光源：50 W鹵素燈。

應用領域：

廣泛應用于半導體、生物技術、數據存儲、顯示、化學以及光學鍍膜工業等領域各種透明或半透明薄膜的厚度的測量。