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分析儀器光譜分析圓二色光譜儀計(jì)算機(jī)輔助藥物設(shè)計(jì) 同源建模靶標(biāo)釣取分子對(duì)接虛擬篩選檢驗(yàn)檢測(cè) 檢測(cè)數(shù)據(jù) 檢測(cè)數(shù)據(jù)有異議質(zhì)譜分析超高分辨四極桿組合靜電場(chǎng)軌道阱液質(zhì)聯(lián)用儀

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【微區(qū)分析】等離子清洗儀

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：去除碳?xì)浠衔飳?duì)TEM和SEM樣本載臺(tái)或樣品的污染，以增強(qiáng)樣品的成像能力（低電壓），提高化學(xué)微量分析時(shí)的精度。優(yōu)勢(shì)：不需要其他的原料，只要空氣就能夠滿(mǎn)足要求，使用方便而且沒(méi)有污染。主要技術(shù)參數(shù)：1.功率：5 - 99 W連續(xù)可調(diào)等離子功率。2.壓力：-2 Torr – 5 mTorr。應(yīng)用領(lǐng)域：儀器廣泛應(yīng)用于除去

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
Tags：分析儀器微區(qū)分析等離子清洗儀清洗儀
【微區(qū)分析】多功能離子減薄儀

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：金屬、陶瓷等耐離子束樣品的減薄、清潔、拋光、切割。優(yōu)勢(shì)：操作簡(jiǎn)便，高效處理樣品，安全。主要技術(shù)參數(shù)：1.兩把非聚焦型的鞍型場(chǎng)槍?zhuān)蓪?duì)樣品的大面積區(qū)域進(jìn)行離子拋光或減薄。2.離子束加速電壓調(diào)節(jié)范圍：0.8 kV - 10 kV（0.1 keV每步）；離子束流：最大4.5mA。3.樣品臺(tái)傾斜范圍：-120°至210°（精確

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
Tags：分析儀器微區(qū)分析多功能離子減薄儀離子減薄儀
【微區(qū)分析】冷凍超薄切片機(jī)

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：可半薄和超薄切片，以及樣品表面光滑處理，為透射電鏡、掃描電鏡、原子力顯微鏡和光鏡檢驗(yàn)生物和工業(yè)樣品提供服務(wù)。優(yōu)勢(shì)：可以輕易地完成常溫/冷凍的超薄切片工作，操作方便。主要技術(shù)參數(shù)：1.樣品臂步進(jìn)厚度：1 - 100 nm，步進(jìn)1 nm，旋鈕調(diào)節(jié)；100 - 1000 nm，步進(jìn)10 nm，旋鈕調(diào)節(jié)；1000 - 2500 nm，步

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
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【微區(qū)分析】臺(tái)式掃描電子顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：可在低真空下觀察成分像、陰影像和凹凸像。樣品室空氣壓力大于5Pa，可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的無(wú)噴涂觀察。優(yōu)勢(shì)：快速抽真空，操作簡(jiǎn)便，快速得到圖像。主要技術(shù)參數(shù)：1.放大倍率：低倍模式 15 – 60 k。2.鎢燈絲電子槍加速電壓：15 kV、 5 kV。3.手動(dòng)樣品臺(tái)樣品臺(tái)可移動(dòng)范圍：X: ±17.5 mm；Y: ±17.5 mm。

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
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【微區(qū)分析】聚焦離子束場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：FIB-SEM雙束電鏡不但能進(jìn)行超高分辨的掃描電鏡觀察，也能利用FIB對(duì)試樣進(jìn)行切割、加工、沉積，從事內(nèi)部和截面觀察及全靜態(tài)三維表征，以及特定圖形加工工作。高性能X射線能譜儀，支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描，能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。優(yōu)勢(shì)：超高的FIB分辨率可以進(jìn)行精確的試樣加工，尤其適合進(jìn)行制定

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
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【微區(qū)分析】場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：SEM主要用于固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。它既可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在微米、納米級(jí)樣品的表面特征，配備的EDS也可以支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描，能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。。優(yōu)勢(shì)：SU8220冷場(chǎng)掃描電鏡采用全新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍大幅提高了探針

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
Tags：分析儀器微區(qū)分析場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡電子顯微鏡
【微區(qū)分析】場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介：功能特點(diǎn)：TEM用于觀察樣品內(nèi)部組織形貌，特別適用于對(duì)納米級(jí)樣品的觀測(cè)；具有結(jié)構(gòu)相的樣品，能在高倍數(shù)下觀測(cè)到晶格條紋。其中，STEM綜合掃描和普通透射電子分析的特點(diǎn)，可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣，得到原子序數(shù)襯度像。EDS支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描，能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。優(yōu)勢(shì)：FEI Talos F200

2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題】
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